Chroma ATE präsentiert auf der SEMICON Taiwan 2023 fortschrittliche Testtechnologie, um die KI-Revolution voranzutreiben

Sep 17, 2023

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30. August 2023, 07:00 Uhr CST

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TAOYUAN, 30. August 2023 /PRNewswire/ -- Chroma ATE Inc., ein führender Anbieter automatisierter Testgeräte, nimmt an der SEMICON Taiwan 2023 teil. Das Unternehmen wird eine Reihe innovativer Testlösungen mit Schwerpunkt auf künstlicher Intelligenz (KI) ausstellen ), Hochleistungsrechnen (HPC), Automobil- und AIoT-Anwendungen, mit dem Ziel, den sich ständig weiterentwickelnden Anforderungen an Halbleitertests gerecht zu werden.

Fortschrittliche SoC-/Analog-Testlösungen

Das Chroma 3650-S2 SoC/Analog-Testsystem ist eine leistungsstarke Leistungs-IC-Testplattform, die die Anforderungen der heutigen Hochspannungs-, Hochstrom- und komplexen digitalen Steuerungs-Leistungs-ICs erfüllt. Es ist mit bis zu 768 digitalen I/O- und Analog-Pins mit einer Stromversorgungskapazität von bis zu 3000 V oder 320 A ausgestattet und verfügt über eine Datenrate von 200 Mbit/s und eine Edge-Placement-Genauigkeit (EPA) von 300 ps. Es ist eine ideale Wahl zum Testen von Lithium-Batteriemanagementsystem-ICs (BMS), Energiemanagement-ICs (PMIC) und GaN- und SiC-bezogenen Leistungs-ICs.

Das Chroma 3680 Advanced SoC Test System erfüllt effektiv die Testanforderungen modernster Chips, die in KI- und Automobiltechnologien verwendet werden. Das System bietet bis zu 2048 I/O-Pins mit Datenraten von bis zu 1 Gbit/s, unterstützt bis zu 16 G SCAN-Vektorspeicher und bietet Benutzern eine Vielzahl von Testmodulen zur Auswahl. Es ist in der Lage, gleichzeitig digitale Logik-, parametrische Testeinheiten-, Leistungs-, Speicher-, Mixed-Signal- und drahtlose HF-Kommunikationstests durchzuführen.

RF-Chip-Testlösungen

Die automatisierten Testsysteme Chroma 3680/3380/3300, integriert mit dem RFIC-Tester Modell 35806, bieten eine umfassende Hochfrequenz-(RF)-Chiptestlösung, die bereits von unseren Kunden für die Massenproduktion validiert wurde. Diese erweiterte Lösung unterstützt eine Reihe von Anwendungen, darunter Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT sowie GPS/BeiDou und Tuner & PA IoT-Kommunikationsstandards. Insbesondere verfügt es über ein VSG/VSA-Modul mit ultrahoher Frequenzbandbreite und einer Abdeckung von 300 K bis hin zu 6 GHz, wodurch es für ein breites Spektrum neuer Standards für die drahtlose Kommunikation geeignet ist.

SLT Tri-Temp-Testlösung

Chroma 31000R-L ist ein Tri-Temp-Testsystem, das für die Erfüllung der anspruchsvollsten thermischen Testanforderungen entwickelt wurde. Mit stabilen Temperaturregelungsmöglichkeiten von -40 °C bis +150 °C und einer DUT-Kühlleistung (Device Under Test) von bis zu 1.800 W ist dieses System die ideale Wahl als High-End-IC-Tri-Temp-Testlösung.

Der Chroma 31000R-L kann nahtlos mit Chroma-Modellen wie 3210, 3110, 3260 und 3200 gekoppelt werden und bietet eine umfassende SLT-Tri-Temp-Testlösung (System Level Test), die sowohl für Labor- als auch für Fabrikumgebungen geeignet ist. Die Tri-Temp-Testlösung von Chroma eignet sich für eine Vielzahl fortschrittlicher und hochwertiger IC-Anwendungen, darunter Automobil, KI und Rechenzentren, GPU, APU, HPC, Luft- und Raumfahrt und Verteidigung. Entwickelt, um sicherzustellen, dass ICs in rauen Umgebungen einwandfrei funktionieren, ist dies die optimale Wahl für Produktzuverlässigkeitstests.

Wächter der Isolationsqualität für Leistungshalbleitergeräte

Leistungshalbleiterbauelemente (z. B. IGBTs, SiC-MOSFETs) werden in verschiedenen Bereichen verwendet, in denen häufig hohe Leistungen/große Ströme für Leistungsumwandlungs-/Steuerschaltungen verwendet werden, und Isolatoren (z. B. Optokoppler, digitale Isolatoren) werden in Umgebungen verwendet, in denen die Spannung hoch ist Der Unterschied zwischen zwei Seiten (dh Primärseite und Sekundärseite) muss isoliert werden. Da zwischen diesen Komponenten höhere Spannungsunterschiede oder Potenzialunterschiede auftreten, ist es sehr wichtig sicherzustellen, dass diese Komponenten unter normalen Betriebsbedingungen eine gute Spannungsisolierung aufrechterhalten können und keine kontinuierliche Teilentladung (PD) aufweisen, die zu einer Verschlechterung der Isolierung führen kann. Der Teilentladungstester der Chroma 19501-Serie entspricht den TE-Messanforderungen der IEC 60270-1 und die in der Verordnung angegebenen Prüfmethoden wurden in das Gerät integriert. Es kann einen AC-HiPot-Test (max. 10 kVac) und eine Teilentladungsmessung (max. 6000 pC) durchführen, wodurch die Qualität und Zuverlässigkeit des Langzeitbetriebs von Leistungshalbleitergeräten und Isolatoren wirksam sichergestellt werden kann.

Fortschrittliche Verpackungstestlösungen

Für fortschrittliche Verpackungsprozesse hat Chroma kontaktlose optische Inspektionsgeräte mit proprietärer Technologie entwickelt. Chroma 7961 In-situ-AOI unterstützt Kunden bei der Erkennung von Fehlern während des Herstellungsprozesses und ermöglicht so eine Echtzeitanalyse und Kontrolle der Produktionsqualität. Das Chroma 7980 2D/3D-Wafer-Messsystem mit unserer patentierten BLiS-Technologie ermöglicht 2D/3D-Messungen der kritischen Dimension (CD) im Nanomaßstab. Mit für spezifische Anwendungen optimierter Hardware und Software wurde Chroma 7980 bereits in verschiedenen 2D/3D-CD-Messanwendungen für fortschrittliche Verpackungsprozesse wie TSV und RDL eingesetzt.

Nanopartikel-Überwachungssystem für Halbleitermaterialien

Da die Qualitätsanforderungen an Halbleitermaterialien immer weiter steigen, wird die Materialinspektion und -überwachung immer wichtiger. Das Inline-Nanopartikel-Überwachungssystem SuperSizer identifiziert erfolgreich Nanopartikel und Verunreinigungen flüssiger Chemikalien, die sich auf die Produktionsausbeute auswirken, und hilft Verarbeitungsingenieuren, ultrafeine Partikel in Technologieknoten unter 20 Nanometern (nm) zu „sehen“. Der Messvorgang wird durch Nanobläschen völlig ungestört und misst die Größe und Mengenverteilung von Partikeln mit einer Größe von nur 3 nm genau, sodass Benutzer Risiken kontrollieren und einen vollständigen Überblick über die Ausbeute erhalten können.

Auf der SEMICON Taiwan 2023 (6.–8. September) wird Chroma stolz sein vielfältiges Angebot an Testlösungen am Stand K2776, Taipei Nangang Exhibition Center, Halle 1, 1. Etage, präsentieren. Wir freuen uns auch über die Teilnahme am Semiconductor Advanced Inspection and Metrology Forum, wo wir innovative Messlösungen für die Prozessinspektion im Halbleiter-Advanced-Packaging diskutieren werden. Entdecken Sie mit uns die neuesten Test- und Messtrends. Wir freuen uns auf den Kontakt mit Ihnen!

QUELLE Chroma ATE Inc.